Nejrychlejší analýza nanosvěta

20. červenec 2009

Nanotechnologie představují jedno z nenadějnějších odvětví současného mezioborového výzkumu. Postupně se objevují i v praxi. Nicméně přesný popis všech jevů v nanostrukturách je doposud obtížný a zdlouhavý.

Server Science Daily upozornil na zcela novou statistickou metodu, díky níž je možné získat všechna experimentální data snadno a rychle. Podle citované zprávy analytická metoda označovaná jako SPAR přinejmenším urychlí základní výzkum v oblasti nanotechnologií.

Značné uplatnění by však mohla nalézt i v průmyslových aplikacích. Průmysl totiž vyžaduje snadnou kontrolu jakosti produkce. Dosavadní fyzikální testování nanostruktur je však zatíženo chybou, kterou způsobují jak systémy samotné, tak měřící přístroje. Oddělení žádaných dat od tohoto šumu je nesmírně zdlouhavé a v případné průmyslové praxi nepoužitelné. Statistická metoda SPAR zmiňovaný nedostatek odstraňuje. K žádaným výsledkům měření tedy vědci dojdou rychleji a na základě menšího souboru vstupních dat.

Na výzkumu se podílel vědecký tým s centrem v Technologickém institutu v Georgii. Analytická metoda SPAR má v nejbližší době otestovat výsledky některých dosavadních výzkumů. Následně bude sloužit v dalším rozvoji nanotechnologií, ať už ve výzkumu, nebo v průmyslové praxi.

autor: redakce ČRo Leonardo
Spustit audio